Basler ace 2 X visSWIR
「見えない」を「見える」に
SWIR（短波長赤外）帯域に対応したカメラとして、保安監視、充填量の確認、微細な構造物や隠れた欠陥の検知をはじめ、幅広い用途で威力を発揮します。
波長範囲
波長域400nm～1700nm対応で可視光からSWIR帯域までの撮像が可能省スペース＆低コスト
29mm×29mmのコンパクトさで価格もお手頃高画質
革新的なファームウェア機能により、非冷却型カメラでありながら、優れた画質を実現アクセサリー
SWIR撮影対応アクセサリーをワンストップでご提供
ファームウェア機能
革新的なファームウェア機能により、冷却型カメラと同等のサイズ・価格帯でありながら、非冷却型のSWIRカメラとして優れた画質を実現していることは、ace 2 X visSWIRの大きな特長です。
SWIRカメラに使用されるInGaAsセンサーは、長時間の露光や温度上昇に起因して、白飛びなどの画素欠陥が発生しやすいというデメリットがあります。そのため、多くのSWIRカメラには冷却機構が追加されており、大型化・高価格化につながっていました。
ピクセル補正ビヨンド
画像データを動的に補間することで、InGaAsセンサー特有の画素欠陥を補正する機能です。画質が大幅に向上するため、スムーズな画像処理が可能になります。
また、この機能には独自のアルゴリズムが採用されており、取得画像に影響を与えることなく、カメラのFPGA上で画素欠陥を直接補正することができます。センサー温度35°C、露光時間50ミリ秒の撮影条件における比較画像が示す通り、ピクセル補正ビヨンドありの場合、画素欠陥が大幅に減少しています。
ピクセル補正ビヨンドの詳細はこちらラインノイズ除去
高画素SWIRカメラに匹敵する画質を実現するため、IMX991搭載モデル（VGA）／IMX990搭載モデル（1.3MP）のいずれにかかわらず、ace 2 X visSWIRにはラインノイズ除去が内蔵されています。
線状ノイズを最小限に抑えられるこの機能を使用すれば、背景が滑らかな画像をリアルタイムに撮影できます。
SWIR撮影の仕組みとBaslerの強み
ace 2 X visSWIR 製品一覧
カメラの選定やシステム構築には、ビジョンシステムコンフィギュレーターが便利です。
Basler ace 2 X visSWIRの特長
可視光からSWIR帯域に対応したカメラとして、SWIR帯域（900nm～1700nm）における光の吸収・反射特性を利用することで、これまでにない用途での活用が可能です。
対象物の奥深くにある内部構造を可視化
長波長のSWIR光は特定の物質を透過するため、果物や野菜の選別、中身が見えない容器の充填量の確認、半導体の欠陥検査などに利用できます。
温度検知
140°Cを超える物質はSWIR光を発しており、SWIRカメラで撮影すると、温度によって画像の明るさが変わります。そのため、シーム溶接検査をはじめ、高温物質の温度測定や識別が求められる用途においても、SWIRカメラは広く活用されています。
用途
半導体検査からリサイクル、品質検査、食品の分類に至るまでさまざまな用途に対応いたします。
