가시광선 및 비가시광선 스펙트럼에서 이미지 ‍처리를 지원하는 Basler ace 2 X visSWIR 카메라
에어리어 스캔 카메라

ace 2 X UV

UV 카메라는 눈에 보이지 않는 ‍부분도 ‍검사할 수 있습니다.

Basler의 자외선 카메라는 숨겨진 것을 볼 수 있게 해줍니다. 예를 들어 플라스틱 분류, 웨이퍼 및 태양 전지의 표면 검사, 보안 기능 검사 등을 수행할 수 있습니다.

  • UV 스펙트럼

    0.2µm ~ 0.4µm의 파장으로 눈에 보이지 않는 빛 스펙트럼의 이미지 캡처
  • 고감도

    8.1MP 해상도, 글로벌 셔터, 후면 조명을 갖춘 Sony MX487 Pregius S UV 센서 탑재
  • 컴팩트한 디자인

    29mm x 29mm 하우징으로 간편한 디자인 인(Design-in)
  • UV 액세서리

    자외선 어플리케이션에 최적화된 다양한 UV 구성 요소 제공
  • 표준 인터페이스

    산업용 PC 및 임베디드 시스템에서 지원되는 높은 데이터 처리량을 위한 GigE, USB 3.0 및 5 GigE 인터페이스
  • SLP 기능

    카메라에 통합된 SLP 기능으로 Basler SLP 컨트롤러를 통해 다양한 광원 연결 가능
  • 최고의 가격 대비 성능

    합리적인 가격으로 고품질 UV 포트폴리오 제공
  • 높은 내구성 및 신뢰성

    3년 보증을 통해 제품의 신뢰성과 내구성 보장

UV 파장대에서 어플리케이션 적용 분야

ace 2 X UV 카메라는 UV(자외선) 파장대에서 작동합니다. 단파장 적외선(SWIR) 범위와 마찬가지로, 많은 물질이 가시광선 범위와 다른 광학적 특성을 가지고 있습니다. 따라서 이 기술은 가시 파장을 넘어서는 특수 어플리케이션에 적용될 수 있습니다.

웨이퍼 검사

웨이퍼 소재의 효과적인 검사에는 가시광 파장대 이하에서도 표면 검사가 포함됩니다. 여기서 UV 카메라는 단파 UV 범위에서 더 높은 해상도를 구현하기 때문에 훨씬 더 미세한 특징과 구조를 캡처할 수 있습니다.

자료 정렬

PVC, PET, PMMA, PC와 같은 유리와 플라스틱은 각각 다른 수준의 자외선 투과율을 가지고 있습니다. 따라서 광학적 특성에 따라 구분할 수 있으며, 예를 들어 재활용 과정에서 분류할 수 있습니다.

보안 점검

지폐와 신분증을 제작하고 검사하면서 표면 아래의 보안 기능을 통해 오류나 위조 여부를 확인할 수 있습니다. 특수 인쇄 잉크의 검사도 UV 파장대에서 가능합니다.

태양전지 검사

태양광 시스템 표면의 스크래치나 균열은 공정 체인 초기에 감지해야 합니다. UV 카메라는 개별 실리콘 블록부터 전체 광전지에 이르기까지 모든 것을 테스트하기 위한 생산 공정 및 품질 관리를 자동화하는 데 도움이 됩니다.

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업계의 독보적인 제품입니다. Basler의 Beyond 기능은 Compression Beyond 및 Pixel Beyond 기능을 제공합니다.

고유한 Beyond 기능

UV 카메라에는 성능을 극대화하기 위한 광범위한 기능 세트가 탑재되어 있습니다. Compression Beyond (압축 비욘드) 및 Pixel Beyond (픽셀 비욘드)는 대역폭을 보다 효율적으로 사용하고 픽셀 크기를 보다 유연하게 확장할 수 있는 업계 유일의 카메라 내 기능입니다.

Beyond 기능 자세히 보기

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ace 2 X UV 카메라 모델

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