반사 부품의 AOI를 지원하는 Basler ace L 및 pylon

주요 내용

Helmee Imaging은 반사 표면이 있는 부품을 대상으로 한 자동 광학 검사용 시스템을 생산합니다. Helmee의 고객 Sarrel은 가장 큰 규모의 자동차 부품 제조업체 중 하나이며 플라스틱 도금(PoP)을 전문으로 합니다. Helmee의 AOI 시스템은 Sarrel의 크롬 도금 부품의 광학 품질을 측정하고 검증합니다. 이 시스템은 고철의 수동 선별 및 분류 작업을 대체합니다.

발생한 문제

이 육안 검사를 수행하기 위해서는 결함을 찾을 수 있는 밝은 조명이 필요합니다. 그러나 거울형 표면은 빛을 반사하여 검사자에 큰 피로감을 줍니다. 또한 검사는 매우 빠른 속도로 진행되어야 합니다. 바로 이런 이유 때문에 Sarrel은 자동화된 분류 프로세스를 찾고 있었습니다. Helmee AOI 시스템은 거의 모든 변수에 적용할 수 있으므로 모든 모양의 반사 부품을 광학적으로 검사하는 데 사용할 수 있습니다.

솔루션 및 이점

Helmee의 AOI 시스템은 Basler ace 카메라 3대, 산업용 PC, 산업용 로봇 2개, 컨테이너 운송 벨트 및 안전용 울타리로 구성됩니다. 시스템은 컨테이너에서 고객의 부품을 자동으로 들어 올려 100% 육안 검사를 수행하고 검사 결과에 따라 부품을 분류합니다.

Helmee는 최근 AOI 시스템을 Basler ace Classic 카메라에서 Basler ace L 카메라로 전환했습니다. 그 이유는 ace L의 이미지 서클이 1인치로 더욱 크기 때문이며, 이는 Helmee가 자체 카메라 렌즈를 사용할 수 있음을 의미합니다. Helmee는 Basler pylon 카메라 소프트웨어 제품군을 사용하여 3대의 ace L 카메라와 통신합니다.

Helmee는 Helmee AOI 검사 소프트웨어 외에도 특허 받은 CSD® 기술(Covered Stereo Deflectometry)을 기반으로 Helmee AOI를 개발했습니다. CSD®는 고광택 크롬 도금에서 각종 결함을 자동으로 감지하는 3D 이미지 처리 시스템입니다.

이점:

• Basler의 ace L 카메라는 1인치의 큰 이미지 서클을 제공하며 유연하고 안정적

• 자동으로 처리되는 부품

• 검사를 생산 공정에 통합 가능