사용 사례

농업 생산 분야의 SWIR 비전 시스템

단파 적외선을 통한 제품 검사의 정확도 향상

사과, 감자 등 과일과 채소의 품질 관리는 시장 요구와 소비자 기대를 충족하기 위해 필수적입니다. 하지만 전통적인 육안 검사 방식은 시간 소모가 크고 정확도가 낮은 한계가 있습니다. Basler의 SWIR 비전 시스템은 식품 품질 검사를 위한 빠르고 신뢰할 수 있는 솔루션을 제공합니다.

Basler ace 2 X visSWIR 카메라는 Basler 조명, 렌즈, 소프트웨어와 함께 구성되어 농업 분야에서 더욱 효율적이고 신뢰할 수 있는 제품 검사를 가능하게 합니다.

농산물을 위한 SWIR 어플리케이션

SWIR 비전 시스템은 손상이나 오염 여부를 포함하여 농산물 검사를 더 빠르고 정확하게 처리할 수 있는 다양한 활용 방안을 제공합니다.

SWIR 스펙트럼 범위에서는 제품과 불순물 사이의 매우 미세한 차이가 더욱 뚜렷해집니다.

제품 및 오염

SWIR 스펙트럼 범위(Spectral Range)에서는 제품과 불순물의 차이(예: 감자와 돌)를 명확하게 구분할 수 있습니다.
SWIR 기술로 가장 작은 압력 자국도 선명하게 확인 가능

압력 자국 감지

SWIR 비전 시스템을 활용하면 품질 관리 과정에서 눈에 띄지 않는 작은 압력 자국도 손쉽게 감지할 수 있습니다.
SWIR 기술로 과일의 당도를 정확하게 판단

당도 추정

SWIR 기술을 이용하면 과일의 당도는 물론 숙성 정도와 수확 시기도 정확히 파악할 수 있습니다.

표면 아래에 숨겨진 정보 파악

SWIR(단파 적외선)의 특성은 품질 관리에 새로운 가능성과 혁신적인 접근 방식을 제공합니다.

가시광선과 비가시광선(SWIR)에서 본 사과의 압력 자국
사과에 생긴 멍을 1000nm(NIR)와 1350nm(SWIR)에서 비교한 결과

추가 정보를 제공하는 visSWIR

멍이 든 사과의 사례는 전통적인 검사 방법의 한계를 명확히 보여줍니다. 육안 관찰에 의존하는 방식은 시간이 많이 걸리고 주관적이며, 인간 오류에 취약합니다. 가시광선 영역의 이미징 기술로는 이러한 한계를 완전히 극복할 수 없으며, 필요한 세부 정보를 제공하지 못합니다. 표면 아래까지 볼 수 있는 비전 시스템이 필수적인 이유입니다.

SWIR: 체계적인 가시성

SWIR 범위에서 이미지 캡처를 위해서는 단파 적외선 스펙트럼에 맞춘 특수한 제품이 필요합니다. SWIR는 시스템 단위로 작동하기 때문에, SWIR 이미징의 품질을 위해 렌즈, 필터, 조명에 대해 적합한 구성 요소를 선택하는 것이 매우 중요하며 각 어플리케이션의 구체적인 요구 사항을 이해하고 있어야 합니다.

 SWIR 비전 시스템 모듈: Basler ace 2 X visSWIR 카메라, 호환 가능 렌즈, 조명 및 필터
1. SWIR 조명, 2. SWIR 조명 제어, 3. SWIR 어플리케이션용 광학 필터, 4. ace 2 x visSWIR 카메라, 5. SWIR 렌즈

SWIR 비전 시스템의 구성 요소

Basler ace 2 X visSWIR 카메라는 가시광선과 비가시광선을 모두 감지하여 검사 프로세스의 효율성을 향상시킵니다. 이 사례에서 근적외선(NIR)과 단파 적외선(SWIR) 빛은 사과의 껍질을 투과하여 수분 저항의 차이를 드러내며, 특히 수분 함량이 높은 부분에서 그 차이가 확실하게 드러납니다. 하지만 성공적인 SWIR 비전 시스템은 이 이상의 요소들을 요구합니다.

  • 전통적인 렌즈는 보통 가시광선 스펙트럼에 최적화되어 있지만, 특수 렌즈에서는 가시광선 스펙트럼을 제외할 수 있습니다. Basler는 두 가지 스펙트럼을 모두 캡처할 수 있는 맞춤형 렌즈를 제공합니다. visSWIR 호환 렌즈.

  • 광학 필터 는 파장 범위에 따라 빛의 이동을 제어할 수 있기 때문에 SWIR 어플리케이션에서 매우 중요합니다.

  • SWIR 조명 (LED 포함)을 사용하면 SWIR 비전 시스템에서 우수한 이미지 품질을 안정적으로 보장할 수 있습니다.

블롭 분석(Blob Analysis)은 부적합 여부, 불순물 또는 당 함량을 안정적으로 판단합니다.
pylon 소프트웨어 제품군에 포함된 vTool 블롭 분석은 압력 지점을 찾아 부적합 제품을 관리할 수 있습니다.

블롭 분석을 이용한 위치 파악

소프트웨어는 어플리케이션을 지능적으로 수행할 수 있게 도와주는 역할을 합니다. 비전 하드웨어 외에도 Basler의 블롭 분석 소프트웨어 모듈은 어두운 부분을 분리하고 분석하는 데 사용됩니다. 블롭 분석은 그레이스케일 값을 기반으로 이미지 내에서 구별되는 영역을 감지합니다. 이를 통해 결함, 불순물 또는 당도의 변화를 파악하고, 그에 맞는 조치를 취할 수 있습니다. 그 결과 제품 검사 효율성이 크게 향상됩니다.

어플리케이션에 대한 지원이 필요하신가요? Basler에서 개별 상담을 통해 고객님의 어플리케이션에 맞게 조정된 Basler SWIR 포트폴리오를 소개해 드리겠습니다.

Basler Feature

픽셀 결함의 자동 보정

Basler ace 2 X visSWIR 모델에는 InGaAs 기술이 적용된 Sony의 SenSWIR 센서가 탑재되어 있습니다. 이 센서들은 소형 픽셀을 통해 기존 센서보다 높은 해상도를 제공합니다. 또한 Basler는 산업용 SWIR 이미징에서 발생할 수 있는 픽셀 오류를 해결하기 위해 Pixel Correction Beyond 기능을 개발했습니다.

왼쪽: Pixel Correction Beyond 기능이 있는 비냉각식 ace 2 X visSWIR 카메라 | 오른쪽: 비냉각식 비교 카메라

Pixel Correction Beyond: 픽셀 결함이 없는 이미지

InGaAs 센서에서 일반적으로 발생하는 픽셀 결함은 이미지 처리에 부정적인 영향을 미칠 수 있습니다. Pixel Correction Beyond는 동적 결함 픽셀 보정 기술로, Basler의 SWIR 카메라가 탁월한 이미지 품질을 구현할 수 있는 주요 비결 중 하나입니다.

이 기능은 Basler가 직접 개발한 알고리즘에 의해 작동됩니다. 작동 중에 Pixel Correction Beyond는 각 이미지에서 픽셀 결함을 감지하고, 이미지 내용을 왜곡하지 않고 FPGA 내에서 결함을 자동으로 보정합니다.

SWIR: 농산물 검사를 위한 완벽한 솔루션

Basler의 SWIR 비전 시스템은 농업 분야의 제품 검사 효율성과 신뢰성을 높여줍니다. 이 카메라 시스템은 농산물 생산자들이 품질 보증, 결함 감지 및 분류 효율성을 향상시켜 작업 흐름을 개선하고 시장의 표준을 충족하며 소비자에게 일관되게 양질의 제품을 제공할 수 있도록 도와줍니다.

주요 이점 요약

  • 이미지 선명도와 결함 감지 정확도를 높이는 호환 가능한 요소들로 구성된 비전 시스템

  • 고급 비전 알고리즘을 통한 안정적인 결함 감지 기능으로 결함을 정확하게 식별하고 관리 작업 관련 위험 완화

  • 실시간 분석을 기반으로 한 최적화된 정렬 프로세스로 전반적인 운영 효율성 향상

해당 솔루션용 제품들

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어떻게 도와드릴까요?

제품 선택에 대한 조언을 드리고 고객의 ‍어플리케이션에 적합한 솔루션을 찾아드립니다.